金融界2025年5月5日消息,国家知识产权局信息显示,普冉半导体(上海)股份有限公司申请一项名为“一种闪存测试方法、装置、电子设备及存储介质”的专利,公开号CN119920299A,申请日期为2025年1月。
专利摘要显示,本发明的实施例提供了一种闪存测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及闪存测试技术领域。将测试数据分成多个待测试数据块,依次将各待测试数据块写入擦除完成的待测试闪存,循环按照预设字线激活时间激活待测试闪存的字线,每次激活字线后读取待测试闪存的一个待测试数据块,并对读取的待测试数据块进行数据校验,以确认待测试闪存是否异常。通过分块进行激活待测试闪存的字线并对分块数据进行校验,从而可以将WL setup时间不够导致的异常芯片成功筛除。
天眼查资料显示,普冉半导体(上海)股份有限公司,成立于2016年,位于上海市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本10560.9735万人民币。通过天眼查大数据分析,普冉半导体(上海)股份有限公司共对外投资了4家企业,参与招投标项目7次,财产线索方面有商标信息11条,专利信息195条,此外企业还拥有行政许可7个。
来源:金融界