大宁创“芯”论坛——“ADC测试”高性能测试实验室研讨会举办
近日，由大宁集团、芯信安电子科技有限公司、上海孤波科技有限公司联合举办的第三届大宁创“芯”论坛——“ADC测试”上海高性能测试实验室研讨会在大宁功能区芯信安实验室举办。
活动当天，来自复旦大学的校方代表和相关专业博士、硕士研究生，以及纳芯微电子、川土微电子等十余家知名科创企业代表参加研讨会，通过专题讲座、小组讨论等形式，聚焦探讨ADC测试方案，凝聚集体智慧，整合多方力量，携手推动ADC测试产业的发展。
活动中，芯信安电子科技有限公司相关负责人以“半导体测试基础”及“ADC测试解决方案”为主题，介绍了半导体芯片测试开发和量产的流程、测试设备、相关工具软件以及国产化现状，并就ADC测试流程、测试项目、测试方案及数字接口多方面进行详细分析。
来自孤波科技应用工程相关负责人围绕“模数转换器的测试方法与实践分享”这一主题介绍了ADC参数测试理论、测试方法和目前比较常见的实验室自动化测试方案，分享了芯片设计公司的相关实践案例。
同时针对目前国内芯片公司ADC/DAC产品逐渐向高速接口、高精度方向发展的情况，以及在量产上面临的测不出（高速、高精度）、人力开销大、测试成本高、GTM周期长等问题，介绍了孤波科技的通用ADC测试解决方案，并且重点分享测试方案在不同类型ADC上的实践案例。
在谈论环节，与会人员以“ADC量产测试”为主题，与拥有20年ATE应用经验的专家和业界同行一起讨论ADC和其他信号链产品量产测试中的各种问题，深度剖析行业内解决量产测试挑战的实际方法。
会后，参会人员一同参观了泰瑞达-芯信安·上海高性能联合实验室，共同观摩ADC测试的实操演示。
记者了解到，该实验室专注于高端复杂芯片和车规级芯片的测试相关技术，总面积3000平方米，拥有各类领先高端设备，依托泰瑞达强有力的支持和实验室坚实的技术能力，可为客户提供各类超高质量的测试服务，助力芯片国产替代、健全供应链安全。
据悉
本次上海高性能测试实验室研讨会的举办，为企业针对“ADC测试”这一问题的深入沟通交流搭建了良好的平台，助力芯片企业在ADC领域突破技术壁垒、解决实际量产问题。
未来，大宁集团将持续汇集优质资源，为企业搭建更多交流平台，助力企业在大宁功能区发展壮大，为推动区域高质量建设赋能。
来源：上海静安